测量显微镜
XQ15-GI激光平面干涉仪
用途：
激光平面干涉仪是一种使用方便的光学精密计量仪器，主要用于精密测量光学平面度。仪器配有激光光源（波长为6328A）。对于干涉条纹可目视、测量读数、照相留存记录。工作时对防震要求一般。如配购相关的必要附件，可精密测量光学平板的微小楔角、光学材料折射率n的均匀性，光学镀膜面或金属块规表面的平面度，90º棱角的直角误差及角锥棱镜单角和综合误差。广泛用于工厂的计量室、光学车间和科研院所的实验室。
用途：
激光平面干涉仪是一种使用方便的光学精密计量仪器，主要用于精密测量光学平面度。仪器配有激光光源（波长为6328A）。对于干涉条纹可目视、测量读数、照相留存记录。工作时对防震要求一般。如配购相关的必要附件，可精密测量光学平板的微小楔角、光学材料折射率n的均匀性，光学镀膜面或金属块规表面的平面度，90º棱角的直角误差及角锥棱镜单角和综合误差。广泛用于工厂的计量室、光学车间和科研院所的实验室。
产品描述
用途：
激光平面干涉仪是一种使用方便的光学精密计量仪器，主要用于精密测量光学平面度。仪器配有激光光源（波长为6328A）。对于干涉条纹可目视、测量读数、照相留存记录。工作时对防震要求一般。如配购相关的必要附件，可精密测量光学平板的微小楔角、光学材料折射率n的均匀性，光学镀膜面或金属块规表面的平面度，90º棱角的直角误差及角锥棱镜单角和综合误差。广泛用于工厂的计量室、光学车间和科研院所的实验室。
仪器特点：
防震性能好、有极好的条纹锁定度、视场清晰、生产场所可用性优于市场同类产品，大容量的工作室为大批量生产企业的大镜面检测提供了方便。
技术参数：
1. 第一标准平面（A面），工作直径D1=φ146mm，平面的面形偏差小于0.03μm（λ/20）
2. 第二标准平面（B面），工作直径D2=φ140mm，平面的面形偏差小于0.03μm（λ/20）
3. 准直系统：工作直径φ146mm，孔径F/2.8，焦距f=400mm
4.测微目镜：焦距f=16.7mm；
5.视场角2W=40°；放大倍数β=15X
6.成像物镜D=7，F=16
7. 光源规格：ZN18（He-Ne）
8. 干涉室尺：φ480×380×285mm
一、主要用途
PG15-J型
二、工作原理
本仪器工作基于双光束等厚干涉原理。
根据近代光学的研究结果，光兼有波动与微粒两重特性。光的干涉现象是光的 波动性的特性。
|
 |
上海市杨浦区兰州路1106号227室
021-55962556
sales@gamryoptical.com
版权所有 © 宁波市嘉美光学仪器有限公司 沪ICP备05024279号